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　　工業(yè)CT是在射線(xiàn)檢測(cè)的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的，其基本原理是當(dāng)經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直且能量I0的射線(xiàn)束穿過(guò)被檢物時(shí)，根據(jù)各個(gè)透射方向上各體積元的衰減系數(shù)從不同，探測(cè)器接收到的透射能量I也不同。按照一定的圖像重建算法，即可獲得被檢工件截面一薄層無(wú)影像重疊的斷層掃描圖像(圖1），重復(fù)上述過(guò)程又可獲得一個(gè)新的斷層圖像，當(dāng)測(cè)得足夠多的二維斷層圖像就可重建出三維圖像。當(dāng)單能射線(xiàn)束穿過(guò)非均勻物質(zhì)后，其衰減遵從比爾定律：
　　即   
　　式中、為已知量，未知量為μ。一幅M×N個(gè)像素組成的圖像，必須有M×N個(gè)獨(dú)立的方程才能解出衰減系數(shù)矩陣內(nèi)每一點(diǎn)的μ值。當(dāng)射線(xiàn)從各個(gè)方向透射被檢物體，通過(guò)掃描探測(cè)器可得到MxN個(gè)射線(xiàn)計(jì)數(shù)和值，按照一定的圖像重建算法，即可重建出MXN個(gè)μ值組成的二維CT灰度圖像。